Alicona InfiniteFocusSL
Система для трехмерного измерения формы и качества поверхности
Thumbnail 1
Slide 1

Alicona InfiniteFocusSL

Система для трехмерного измерения формы и качества поверхности

InfiniteFocusSL – это оптическая система, предназначенная для простого, быстрого и пролеживаемого пространственного измерения формы и качества микроструктурированных поверхностей.

Цена по запросу

Система позволяет измерять как форму, так и шероховатость изделий. Кроме того, пользователь получает цветные изображения контролируемых поверхностей с высокой контрастностью и глубиной резкости. Большое рабочее расстояние (до 33 мм) в сочетании с полем измерения 50 мм x 50 мм обеспечивает широкий спектр возможных вариантов применения системы. Измерения выполняются за секунды, а такие функции, как коаксиальный лазер для быстрой и простой фокусировки, повышают удобство использования. Благодаря интерфейсу автоматизации система InfiniteFocusSL также может применяться для проведения полностью автоматических измерений в производственных условиях.

Мгновенные измерения высокой точности: Получите результаты измерений за секунды.

Всесторонний анализ поверхности: Измеряйте структуру поверхности, шероховатость и форму с высокой повторяемостью.

Функциональность стереомикроскопа: Используйте прибор как мощный стереомикроскоп.

Стабильность и надежность: Не подвержен влиянию окружающего света и колебаний температуры.

Точная цветопередача: Получайте информацию об истинных цветах изделия.

Простота использования: Коаксиальный лазер обеспечивает удобное позиционирование и фокусировку.

Таблица с характеристиками
Системные требования
Технология
бесконтактный, оптический, трехмерный, основанный на технологии Focus Variation
Позиционирование (xyz)
Объективы RL: мот.: 50 мм x 50 мм x 155 мм (Z: 25 мм мот., 130 мм ручн.) = 387500 мм3; Объективы SXRL/AXRL: мот.: 50 мм x 50 мм x 120 мм (Z: 25 мм мот., 95 мм ручн.) = 300000 мм3
Кратность увеличения объектива
10x; 20x; 50x; 2xSX; 4xAx*; 5xAX; 10xAX; 20xAX; 50xSX
Рабочее расстояние, мм
10x — 17,5; 20x — 16; 50x — 10,1; 2xSX — 34; 4xAx* — 30; 5xAX — 34; 10xAX — 33,5; 20xAX — 20; 50xSX — 13
Диапазон измерений по осям X и Y, мм
10x — 2; 20x — 1; 50x — 0,4; 2xSX — 10; 4xAx* — 4,87; 5xAX — 3,61; 10xAX — 2; 20xAX — 1; 50xSX — 0,4
Площадь измерения (X × Y), мм²
10x — 4; 20x — 1; 50x — 0,16; 2xSX — 100; 4xAx* — 23,72; 5xAX — 13,03; 10xAX — 4; 20xAX — 1; 50xSX — 0,16
Вертикальное разрешение, нм
10x — 100; 20x — 50; 50x — 20; 2xSX — 3500; 4xAx* — 620; 5xAX — 460; 10xAX — 130; 20xAX — 70; 50xSX — 45
Погрешность шага по высоте (1 мм), %
0,1 для всех объективов
Максимальная измеряемая область, мм²
2500 для всех объективов
Минимальная измеряемая шероховатость Ra, мкм
10x — 0,3; 20x — 0,15; 50x — 0,08; 2xSX — не указана; 4xAx* — не указана; 5xAX — не указана; 10xAX — 0,45; 20xAX — 0,25; 50xSX — 0,15
Минимальная измеряемая шероховатость Sa, мкм
10x — 0,15; 20x — 0,075; 50x — 0,05; 2xSX — не указана; 4xAx* — не указана; 5xAX — не указана; 10xAX — 0,25; 20xAX — 0,1; 50xSX — 0,08
Минимальный измеряемый радиус, мкм
10x — 5; 20x — 3; 50x — 2; 2xSX — 20; 4xAx* — 12; 5xAX — 10; 10xAX — 5; 20xAX — 3; 50xSX — 2
Запросить коммерческое предложение